Essais & Simulations n°122

mesures et methodes de

mesures et methodes de mesure Événement Enova mise sur les objets connectés et l’embarqué En lien avec les tendances actuelles portées par l’Industrie du futur, Enova Paris ouvrira ses portes 22 au 24 septembre prochains à Paris Porte de Versailles, dans le Hall 4. Il mettra tout particulièrement en lumière les avancées en matière de systèmes embarqués et d’objets connectés. Lancementdu17 e Congrès de métrologie 50 milliards d’objets connectés dans le monde de 2020 et445 millions d’objets connectésprévusenFrance d’ici2018, soit une augmentation de 74 %depuis 2013. Voici les chiffres retenus par les organisateurs dusalon Enova Paris 2015 et qui ont justifié la présence d’un espace entièrement dédié à l’embarqué et aux objets connectés, lesquels feront l’objet de deux cycles de conférences organisées par les pôles Cap’Tronic, Cap Digital et Systematic. L’innovation sera toujours sous les feux des projecteurs avec la 5 e édition des trophées de l’Innovation. Ce concours valorisa les initiatives et technologies les plus innovantes des exposants autour des catégories – Qualité/Sécurité, Productivité et Technologie embarquée – auxquelles se rajoute cette année, Usage Objet connecté.Denouveau, l’innovation Coup de cœur des visiteurs sera aussi primée. La 4 e édition du congrès des applications des fibres optiques, dressera le panorama de la très grande diversité des applications de la fibre optique appuyé par des retours d’expériences. Diversité à travers les applications des capteurs et réseaux de capteurs à fibres optiques pour l’agriculture, le BTP et la surveillance de structures, l’avionique, le spatial, etc. Avec en nouveautés les fibres optiques actives et les fibres optiques pour l’imagerie. Conjointement à Enova Paris, le 17 e Congrès international de métrologie (CIM) organisé par le Collège français de métrologie sera le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure. Pierre Claudel (Cetiat) et Jenny Hully (NPL – Royaume-Uni), tous deux coprésidents du congrès, donnent ainsi rendez-vous aux visiteurs pour une nouvelle édition une fois de plus riche en conférences techniques. Les professionnels de la métrologie se rassembleront donc de nouveau en septembre à Paris pour cette manifestation unique en Europe. « Ses objectifs sont innovants mais aussi très pratiques », précise-t-on au sein de l’organisation : il s’agit en effet de présenter les évolutions des techniques demesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie, mais également de montrer comment la mesure améliore les processus industriels et la maîtrise des risques. Le contenu du congrès CIM est large : 180 conférences, six tables rondes, une exposition des innovations technologiques, trois visites techniques proposées à pas moins de 1000 participants venant d’une cinquantaine de pays ; parmi eux, des utilisateurs de moyens de mesure, des responsables fiabilité et qualité, des managers et autres décideurs, mais aussi des constructeurs et prestataires, des enseignants et des chercheurs. Une traduction simultanée français/anglais sera assurée tout au long des conférences et des différents moments forts du congrès. une relation étroiteentre le CfM et Enova Le Collège français de métrologie (CFM) provoque les rencontres pour que les processus de mesure soient mieux compris, pour qu’un instrument de mesure soit plus qu’une machine qui « sait » pendant que son utilisateur ne « sait pas vraiment », pour que l’innovation soit transférée à l’industrie. Ainsi, le concept du Salon Enova est d’être le point de rencontre de l’innovation industrielle, scientifique et universitaire. Il s’agit d’une plateforme d’échanges entre industriels, ingénieurs et chercheurs, le lieu privilégié de l’électronique, de la mesure, la vision et l’optique, réunissant l’ensemble des professionnels du secteur. Ilétait ainsi naturel que le CFM et Enova proposent ensemble une offre complète pour ces quelques jours. Olivier Guillon Essais & Simulations • SEptEmbrE 2015 • pAGE 8

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