Essais & Simulations n° 131

MESURES DOSSIER CEM

MESURES DOSSIER CEM COMPTE-RENDU La Journée ASTE-Valeo du 7 novembre met la CEM à l’honneur Le 7 novembre dernier, Valeo a accueilli l’ASTE sur son site de Créteil pour une journée thématique consacrée à la « Prise en compte de de la compatibilité électromagnétique (CEM) dans la fiabilité des systèmes complexes ». Environ vingt-cinq personnes ont assisté à cet évènement. Après un accueil par les organisateurs (Frédéric Lafon, expert CEM et David Delaux, expert senior en fiabilité chez Valeo), Jean-Paul Prulhière (Metexo), secrétaire général de l’ASTE, a présenté l’association et souligné l’importance de l’échange des savoirs dans le contexte actuel. Les exposés techniques de la journée ont débuté par un exposé de Jean- Paul Prulhière sur un outil gratuit d’aide à la conception de type simulation 0D-1D (GAM-PME : Guide d’aide interactif à la mesure en environnement électromagnétique industriel pour les PME-PMI) développé dans le cadre d’un projet collaboratif piloté par l’ASTE et financé par la DGE. Daniel Dauzon d’Emitec a ensuite montré l’impact du design CEM sur la fiabilité et la sûreté de fonctionnement et résumé les règles de bonne pratique à appliquer. Priscilla Fernandez-Lopez de Valeo a quant à elle décrit les objectifs du projet collaboratif européen Peter (Pan european training, research and education network on electromagnetic risk management) : formation de doctorants sur le développement de systèmes électroniques qui maintiennent la fiabilité et la sécurité. Soumis en janvier 2017, il sera représenté début 2018. De son côté, Olivier Maurice d’Airbus Safran Launcher a présenté une nouvelle approche probabiliste permettant de prendre en compte les facteurs de vieillissement dans la stratégie CEM au niveau d’un système complexe (lanceur de satellites). DES APPLICATIONS CONCRÈTES Ces exposés ont été suivis de deux applications industrielles concrètes. La première, par Béatrice Bouriot de l’UTBM, a montré les capacités des chambres à brassage de mode dans l’industrie pour les essais de susceptibilité, d’immunité et d’émission rayonnée. La seconde, par Charles Jullien de Safran Electrical Power, a décrit l’outil numérique basé sur un process industriel et sur la théorie de la topologie électromagnétique appliquée aux câbles pour déterminer la diaphonie entre plusieurs harnais complexes d’un avion. Chacune des présentations a été suivie de nombreuses questions de la part des auditeurs. Jean-Paul Prulhière a ensuite remercié les intervenants pour la qualité de leurs exposés, et les personnels de Valeo qui ont participé à l’organisation de cette journée et contribué à son succès. Il a indiqué la création d’un nouveau groupe de travail thématique dédié à la CEM au sein de l’ASTE dans lequel ce type d’échange devrait se poursuivre et s’amplifier. Il répondra aux besoins dans ce domaine compte tenu de l’électrification croissante des véhicules et de l’intégration de l’informatique embarquée(maitrise de la collaboration des courants forts et faibles). La journée s’est terminée par la visite des moyens CEM du site Valeo (voir le reportage en pages 38 et 39 du magazine). • 36 IESSAIS & SIMULATIONS • N°131 • Décembre 2017

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